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Memorias - 2do. Congreso internacional de Metrología Legal

Conferencistas
 

Día 1

 
  • José Manuel López Mejías

    José Manuel López Mejías


    Presentación: Experiencia de la verificación metrológica en la comunidad de Madrid

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  • Elías Elías Cabrera

    Elías Elías Cabrera


    Presentación: El estado de la Metrología legal en Panamá

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  • Ing. Leandro E. García

    Leandro Garcia


    Presentación: El estado de la metrología legal en Argentina

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  • César de Jesús Cajica Gómez

    César de Jesús Cajica Gómez


    Presentación: El estado de la Metrología Legal en México

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  • Sandra Marcela Rodríguez Zúñiga

    Sandra Marcela Rodríguez Zúñiga


    Presentación: Estado de la Metrología Legal en Costa Rica

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  • profile

    Xie Jun


    Presentación: Overview of legislation System of Metrology in China

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  • profile

    Johann Fischer z


    Presentación: Verification System in Germany – Market surveillance approach

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  • profile

    Peter Adam


    Presentación: Slovak Metrological System and Market Surveillance

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  • Ing. Fernando Antonio Arruza Rodríguez

    Ing. Fernando A. Arruza Rodríguez


    Presentación: El estado de la Metrología legal en Cuba

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  • Mª Teresa López

    Maite López


    Presentación: El estado de la metrología legal en España

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Día 2

 
  • profile

    Alejandro Giraldo Lópezr


    Presentación: Delegatura para el Control y Verificación de Reglamentos Técnicos y Metrología Legal

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  • profile

    Ralph Richter, PEa


    Presentación: Legal metrology in the United States

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  • profile

    Stephen A Patoray


    Presentación: Impact and Benefits of being a Member State of the OIML

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  • profile

    Gustavo Adolfo Montiel


    Presentación: Estado de la Metrología Legal en Nicaragua

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