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III Congreso Internacional de Metrología y Seminario OIML

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Inivitación del Superintentente Delegado Jairo Enrique Malaver Barbosa

Información general

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Bogotá

Agenda

24 Sep

08:30 a 08:45

Vídeo institucional

09:00 a 09:10

Palabras de Bienvenida

Andrés Barreto González

29 Mayo

08:00 a 08:15

Discurso de apertura del III Congreso Internacional de Metrología Legal

08:15 a 09:15

Conferencia: Presentación control metrológico de instrumentos de medición en Holanda

Cock Oosterman
09:15 a 09:45

Refrigerio

09:45 a 10:45

Conferencia: Metrological control of primary standards

10:45 a 11:45

Conferencia: Presentación metrología legal OIML

Ian Dumill
12:30 a 14:00

Almuerzo

14:00 a 16:00

Panel: Metrología legal, actualidad y perspectiva

30 Mayo

08:00 a 09:00

Conferencia: Presentación control metrológico básculas camioneras en Brasil

Marcos Trevisan Vasconcellos
09:00 a 10:00

Conferencia: Presentación control metrológico de básculas camioneras en Argentina

Leandro Ezequiel García
10:00 a 10:30

Refrigerio

10:30 a 11:30

Conferencia: Presentación control metrológico de instrumentos de medición en Brasil

Marcos Trevisan Vasconcellos
11:30 a 12:30

Conferencia: Control metrológico productos preempacados y OIML G-21

12:30 a 14:00

Almuerzo

14:30 a 15:30

Panel: Metrología legal, prevención de fraudes y abusos

15:30 a 16:00

Conferencia: Discurso de cierre III Congreso Internacional de Metrología

Jairo Enrique Malaver Barbosa

31 Mayo

08:00 a 08:15

Bienvenida – Introducción al taller

08:15 a 10:00

Taller OIML

10:00 a 10:15

Refrigerio

10:15 a 11:45

Taller OIML - Segunda parte

11:45 a 12:30

Preguntas y respuestas

Conferencistas